B安捷伦半导体参数分析仪
B是安捷伦的半导体参数分析仪。半导体参数分析仪是用于各种测量功能的多合一工具。半导体参数分析仪可以测量和分析多种电子设备、材料、有源或无源元件、半导体或任何其他类型的电子设备的电气特性。工程师使用这台测试设备来监测不同类型设备中的电流和电压响应。附加的功能：
高分辨率/准确度和宽范围。I：1fA至1A（20fA偏移精度），V：1μV至V
采用直流或脉冲模式的全自动IV扫描测量，可扩展至6个SMU
同步应力/测量功能，两个高压脉冲发生器单元(±40V)
时域测量：60μs–可变间隔，最多10,个点
易于使用：类似于曲线跟踪器的旋钮扫描，自动分析功能
自动化：内置HPInstrumentBASIC、触发I/O功能
设置测量和/或压力条件
控制测量和/或压力执行
执行算术计算
在LCD显示屏上显示测量和计算结果
执行图形分析
存储和调用测量设置，以及测量和图形显示数据
转储到打印机或绘图仪以进行硬拷贝输出
使用内置的HPInstrumentBASIC执行测量和分析
自检、自动校准
AgilentHPB是下一代精密半导体参数分析仪。您将获得最好的数字扫描参数分析仪、可靠性测试仪、功能强大的故障分析工具和自动进货检测站，所有这些都集成在一台仪器中。
这个新系列经过明确设计，旨在为评估您的亚微米几何器件提供前所未有的精度和功能。使用一台灵活的仪器，您可以从材料评估和器件表征一直到最终封装部件检查和现场故障分析，提高您的半导体质量。